Coelho Neto, Paula MacielReis, Diogo Duarte dosMatos, Matheus Josué de SouzaSá, Thiago Grasiano Mendes deGonçalves, Além Mar BernardesLacerda, Rodrigo GribelSouza, Angelo Malachias dePaniago, Rogério Magalhães2016-11-072016-11-072016COELHO NETO, P. M. et al. Near-edge X-ray absorption spectroscopy signature of image potential states in multilayer epitaxial graphene. Surface Science, v. 644, p. 135-140, 2015. Disponível em: <http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602815003209>. Acesso em: 07 out. 2016.0039-6028http://www.repositorio.ufop.br/handle/123456789/7079pt-BRabertoGrapheneGraphiteSpectroscopyDiffractionArtigo publicado em periodicoO periódico Surface Science concede permissão para depósito deste artigo no Repositório Institucional da UFOP. Número da licença: 3962490674318.https://doi.org/10.1016/j.susc.2015.10.016