DEFIS - Trabalhos apresentados em eventos
URI permanente para esta coleçãohttp://www.hml.repositorio.ufop.br/handle/123456789/588
Navegar
Item Comparing curvature estimation techniques.(1999) Estrozi, Leandro Farias; Bianchi, Andrea Gomes Campos; Rios Filho, Luiz Gonzaga; César Júnior, Roberto Marcondes; Costa, Luciano da FontouraThis article presents a careful comparative evaluation of two techniques for numerical curvature estimation of 2D closed contours (more specifically closed, regular and simple parametric curves). The considered methods are: (a) a 1-D Fourier-based approach; and (b) a 2-D Fourier-based approach involving the embedding of the contour into a 2-D regular surface (presented for the first time in this article). Both these techniques employ Gaussian smoothing as a regularizing condition in order to estimate the first and second derivatives needed for curvature estimation. These methods are considered according to a multiresolution approach, where the standard deviation of the Gaussians are used as scale parameters. The methods are applied to a standard set of curves whose analytical curvatures are known in order to estimate and compare the errors of the numerical approaches. Three kinds of parametric curves are considered: (i) curves with analytical description; (ii) curves synthesized in terms of Fourier components of curvature; and (iii) curves obtained by splines. A precise comparison methodology is devised which includes the adoption of a common spatial quantization approach (namely square box quantization) and the explicit consideration of the influence of the related smoothing parameters. The obtained results indicate that the 1- D approach is not only faster, but also more accurate. However, the 2-D approach is still interesting and reasonably accurate for applications in situations where the curvature along the whole 2-D domains is needed.Item Preparação e caracterização de filmes ultrafinos de PANI/PVS para aplicação como sensores de detecção de amônia em galpões de criação avícola.(2009) Santos, Mirela de Castro; Santos, Fabrício Aparecido dos; Teixeira, Felipe Portella; Gonçalves, Gislayne Elisana; Bianchi, Andrea Gomes Campos; Bianchi, Rodrigo FernandoNesse trabalho foram caracterizados óptica, elétrica e morfologicamente filmes ultrafinos de PANI/PVS para uso como elemento ativo de sensores de amônia. Os filmes automontados foram depositados entre microeletrodos metálicos formados por uma fina camada de NiCr recoberto com Au. Medidas de absorção na região do UV-VIS mostraram o crescimento linear dos filmes, enquanto a análise das imagens de microscopia de força atômica mostrou o aumento da rugosidade, do tamanho de grão e do tamanho da partícula com a espessura dos filmes. A caracterização elétrica dc evidenciou uma significativa mudança na resistência elétrica do sistema quando a espessura do filme tornou-se equivalente à espessura do eletrodo de NiCr. Esse efeito foi atribuído à alta resistência elétrica da interface NiCr-filme. A impedância complexa obtida foi típica de materiais sólidos desordenados, com influência da interface NiCr-filme em baixas frequências. Por fim, os filmes mostraram ainda aumento de resistência elétrica em cerca de três vezes quando expostos às condições ambientais de galpões de criação avícola ([NH3] < 50 ppm).